FP标准具（干涉仪）

产品介绍

         F-P共焦球面扫描干涉仪是利用多光束干涉原理设计的一种光学仪器，当入射光的频率满足其共振条件时，会形成相长干涉，对应着很高的透射光强，从而可以作为测量激光纵模等参量的有效工具。它是一种利用多光束干涉现象来工作的装置，在提高光谱的单色性、研究光谱线的精细结构和超精细结构、测量和压窄线宽及腔内选模等方面有非常重要的作用。

图1 F-P扫描干涉仪的基本结构图

   如图1所示，F-P扫描干涉仪由两片曲率半径为r的反射镜相对放置，其中一片反射镜固定在压电陶瓷上，他们的间距d等于曲率半径，从而构成球面对称共焦腔。被检测光束入射到谐振腔后，会在腔内形成多次往返，其中一小部分光透射到腔外。只有波长满足kλ=4d（k为正整数）的光才会形成干涉相长，在光电探测器上得到较强信号。压电陶瓷上加载扫描电压时，腔长随之改变，入射光不同频率成分先后满足干涉相长条件，因而光电探测器上获得随时间变化的光强信号，继而得到待测光光谱。

产品特点

        机械结构稳定，易于调节，使用方便等

产品应用

        教学、光谱学、测量和长度计量等领域

技术指标